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一、產品用途
SX-2實體顯微鏡主要用于產品的宏觀檢驗,能夠檢驗斷口內的裂紋（擠壓裂紋、淬火裂紋、鑄造裂紋）、裂口、縱向裂紋、焊和不良、疏松、氧化膜、氣孔等宏觀缺陷。也適用于自然領域或工程領域三維物體的觀察及工業電子領域的廣泛應用，也是教育和科研單位的標準配備工具。
二、產品性能
1. 視場寬廣，成像清晰，立體感強。
2. 1：8變倍范圍令成像質量更佳。
3. 45度傾斜的觀察頭可作360度旋轉使操作更舒適。
4. 左右目鏡筒可作±5視度調節。
5. 調焦工作范圍43mm，瞳距調節55-75mm。
6. 先進的鍍膜技術，觀察時具有極好的亮度和襯度。
三、技術規格
1. 觀察鏡筒： 45°傾斜雙目頭、360°旋轉，瞳距55mm-75mm視度調節±5屈光度
2. 放大倍數，工作距離及視場直徑
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目鏡 |
物鏡 |
總放大率 |
視場范圍（mm） |
工作距離 |
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WF10×/20mm（標配） |
0.63×-5.0× |
6.3×-50× |
28.6-4.4 |
100mm |
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WF20×/10mm（選購） |
14×-100× |
14.3-2.2 |
3. 物鏡變倍比：8 : 1 確保像面齊焦性
4. 調焦機構：立臂調焦手輪松緊可調
5. 照明系統：上照明，入射照明鹵素燈：12V15W；下照明：透射照明鹵素燈：12V15W
